NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
DEPARTAMENT POLIMERI - ICECHIM
Untitled
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
TEZĂ DE DOCTORAT
Microscopul Electronic de Baleiaj (SEM) | PDF
DEPARTAMENT POLIMERI - ICECHIM
Microscop electronic de baleiaj VERIOS G4
Microscop electronic cu baleiaj (SEM) – ECOMET
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
Microscopul electronic (SEM) Phenom XL
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
STUDIU DE MICROSCOPIE A SUPRAFEŢELOR BRACKET-URILOR METALICE ŞI CERAMICE
Echipamente
04_Microscopia electronică_site.pptx
NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP
Microscop Electronic | PDF
Microscop electronic de baleiaj cu tunelare cu studiul suprafetelor Tip Platforma STM Ntegra Aura NT - MDT
Microscop electronic de baleiaj cu emisie de camp (FESEM) Model Carl Zeiss Auriga Sistem cu fascicul focalizat de ioni (FIB) Mo
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
nanoscan
04_Microscopia electronică_site.pptx
